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美國(guó)FEI開發(fā)成功分辨率達(dá)0.07nm電子顯微鏡 (2005-04-22)

發(fā)布時(shí)間:2007-12-04 作者: 來源:儀器信息網(wǎng) 瀏覽:1546
美國(guó)FEI公司日前成功開發(fā)出了分辨率高達(dá)0.07nm的電子顯微鏡“Titan 80-300”。從分辨率來講,作為TEM(透射電子顯微鏡)使用時(shí)為0.07nm,用作STEM(掃描透射電子顯微鏡)時(shí)為0.1nm。 FEI總裁兼首席執(zhí)行官Vahe Sarkissian表示,該產(chǎn)品在目前市場(chǎng)上銷售的電子顯微鏡中實(shí)現(xiàn)了全球最高的分辨率。過去的電子顯微鏡不一定對(duì)提高分辨率的像差補(bǔ)償技術(shù)進(jìn)行優(yōu)化。但此次則引進(jìn)了與像差補(bǔ)償技術(shù)相適應(yīng)的設(shè)計(jì),這一點(diǎn)在市售產(chǎn)品中也是第一次嘗試。該產(chǎn)品將于8月在美國(guó)檀香山召開的“2005年顯微術(shù)與顯微分析技術(shù)會(huì)議(2005 Microscopy and Microanalysis meeting)”上首次展出并正式上市。
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