美國材料試驗協(xié)會（ASTM）自2008年開始的一項納米技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)修訂工作，日前結(jié)束。

      這項標(biāo)準(zhǔn)的編號為ASTM E2490，內(nèi)容為用光關(guān)聯(lián)能譜法（PCS）測定懸浮狀態(tài)下納米材料的粒徑分布方法指南。PCS是動態(tài)光散射法或準(zhǔn)彈性光散射法。這項技術(shù)通常用于小于100納米，特別是小于1納米的極微小顆粒的測定。

      這項修訂工作動用了26間實驗室，共完成了7700次測量數(shù)據(jù)。為了確保修訂工作的順利進行，美國國家標(biāo)準(zhǔn)研究所和國家癌癥研究所均參與了這些實驗室研究工作。ASTM納米技術(shù)國際委員會下設(shè)的納米粒子物理、化學(xué)和毒性表征分委員會負責(zé)該標(biāo)準(zhǔn)的制訂與修訂工作。