躋身國際計量前沿 引領測長方法創(chuàng)新

——訪2011國家科技進步二等獎《測長方法創(chuàng)新及固體密度基準的建立》項目負責人羅志勇

　　在國際計量單位制(SI)的7個基本物理量中，長度的單位“米”、時間的單位“秒”、電流的單位“安培”等6個已由量子基準復現(xiàn)，目前只有質(zhì)量的單位“千克”仍由實物基準復現(xiàn)。阿伏伽德羅常數(shù)（NA）不僅是定義質(zhì)量基準最有前途的方法之一，還用于定義另一個基本量——物質(zhì)量的單位“摩爾”，對于在原子、分子和量子水平上研究和解決計量基標準問題十分重要。單晶硅球密度測量是NA測量最重要的關鍵技術(shù)，同時也是固體密度基準的核心。我國基于純水的國家密度基準最高準確度僅可達到5×10-6，已不能適應科學研究和精密工業(yè)對密度測量的需要，建立以絕對測量為基礎、具有超高準確度的固體密度基準迫在眉睫。

　　20世紀70年代以來，以建立固體密度基準、測量阿伏伽德羅常數(shù)為目標的研究一直是國際計量前沿領域的研究熱點。“技術(shù)上要求準確度到亞納米級，這幾乎是長度測量的極限。”《測長方法創(chuàng)新及固體密度基準的建立》項目負責人、中國計量科學研究院研究員羅志勇在接受記者采訪時介紹說。

　　日前，由中國計量科學研究院作為第一完成單位承擔的《測長方法創(chuàng)新及固體密度基準的建立》研究項目，獲得2011年度國家科技進步二等獎。該項目提出并實現(xiàn)一種超高準確度測長方法——“機械掃描”相移干涉法，實現(xiàn)NA測量重大技術(shù)突破，填補了國際該領域空白；利用該項術(shù)在國際上首次以“激光變頻”之外的方法建立了我國的固體密度基準，準確度達2×10-7（k=2），處于國際領先水平。

 國際計量界的熱點

　　記者：據(jù)了解，近30多年來，以建立固體密度基準、測量阿伏伽德羅常數(shù)為目標的研究一直是國際計量領域的研究熱點。首先，請簡單介紹下這方面的國際背景。

　　羅志勇：以建立固體密度基準、測量阿伏伽德羅常數(shù)為目標的研究工作，最初始于20世紀60年代，當時美國NIST提出并建立固體密度基準，但沒有繼續(xù)開展后續(xù)工作。70年代意大利最先開展這方面的測量，方案幾經(jīng)更換，最終選擇了球體，材料也由石英、微晶玻璃等逐漸發(fā)展到更為穩(wěn)定的單晶硅。隨后德國PTB、日本NMIJ也介入了這方面的研究，測量方法也有所提升：德國采用球面波干涉法，日本采用平面波干涉法。2000年以后由于頻率調(diào)制技術(shù)的發(fā)展，各先進國家都進入“激光變頻”時代。但每種方案都有其自身的局限性。

　　記者：請談談我國在此方面開展的研究情況及進展狀況？

　　羅志勇：單晶硅球密度測量是NA測量最重要的關鍵技術(shù)，同時也是固體密度基準的核心。20世紀80年代，我國密度工作者提議開展此項研究工作，但是限于經(jīng)費和當時的技術(shù)條件，只能開展相關理論研究。

　　2002年我國啟動了重大基礎研究專項：NA測量關鍵技術(shù)攻關——“固體密度基準研究”，項目核心技術(shù)是實現(xiàn)對硅球直徑亞納米級準確度測量，具有極高的技術(shù)難度。因此必須立足新的技術(shù)原理和方法，實現(xiàn)關鍵技術(shù)的實質(zhì)突破。在國外多年的技術(shù)積累基礎上，我們經(jīng)過兩年多的調(diào)研并篩選了20多種方案，于2004年提出“機械掃描”相移干涉法的測長方法。由于該方法的原理可靠，2006年固體密度測量的合成不確定度達到2.2×10-7，步入國際先進行列。

　　此后又得到“十一五”國家科技支撐計劃和中國計量科學研究院科研業(yè)務費等的持續(xù)支持。2007年實現(xiàn)了氧化層厚度的精確測量，影響密度的關鍵誤差項大幅減小。在“十一五”國家科技支撐計劃重點項目“阿伏加德羅常數(shù)測量”中對硅球直徑的測量準確度已達0.9nm，達到國際領先水平。2008年3月與澳大利亞單晶硅球（不確定度10nm）進行了比對測量，直徑差僅為1.75nm。

　　記者：請簡要介紹下由中國計量科學研究院承擔《測長方法創(chuàng)新及固體密度基準的建立》項目（以下簡稱“該項目”）的研究目標和內(nèi)容。

　　羅志勇：建立我國的新一代國家密度基準和實現(xiàn)測長技術(shù)實質(zhì)性創(chuàng)新。我們進行阿伏伽德羅常數(shù)測量最初目的是為建立固體密度基準，而測長方法創(chuàng)新是這一研究過程中提出的方法。

創(chuàng)新突破，國際領先

　　記者：作為該項目負責人，請簡單介紹下該項目的核心技術(shù)？

　　羅志勇：立足新的技術(shù)原理和方法，在國際上首先提出并實現(xiàn)一種超高準確度測長方法——“機械掃描”相移干涉法，實現(xiàn)測長方法重大突破，填補了國內(nèi)外該領域空白，成為我國開展NA測量及參與國際合作研究的支撐技術(shù)。

　　記者：請談談該項目研究的主要創(chuàng)新點和重大的技術(shù)突破。

　　羅志勇：首先，關鍵量——單晶硅氧化層厚度的精密測量方面。在國際上首次提出理論算法與光闌濾波相結(jié)合的方法，成功消除偏振混疊效應所導致的膜層厚度數(shù)學模型缺陷，將混頻效應不確定度控制在小于0.05nm的范圍之內(nèi)，單晶硅層厚度測量能力達到國際先進水平前列。其次，信號去噪關鍵技術(shù)突破。國際上首次利用拓撲分析方法和“復值馬爾科夫”隨機場函數(shù)，快速、有效地衰減了信號采集中的隨機噪聲，提高了信號測量準確度，實現(xiàn)了一種高效率噪聲處理新方法。第三，精密絕熱控溫技術(shù)創(chuàng)新。利用“溫度補償效應”和“相位疊加效應”，研制出溫度穩(wěn)定性顯著優(yōu)于國際同行的精密絕熱控溫系統(tǒng)。此項技術(shù)深得PTB Nicolaus博士（PTB硅球直徑組組長）的肯定，基于此項技術(shù)的發(fā)明專利即將授權(quán)。此外，項目還實現(xiàn)測量全變量仿真，真正實現(xiàn)了以理論結(jié)果指導實驗研究，為最終突破NA測量瓶頸提供了技術(shù)保證。項目還在密度量傳裝置的負載切換技術(shù)、干涉系統(tǒng)的最佳可視化、環(huán)心定位技術(shù)和硅球位置的準確控制等方面有新的設計思想和重要創(chuàng)新點。

　　記者：請問，該項目的研究成果和技術(shù)水平在國際上所處地位及社會評價如何呢？

　　羅志勇：本項目突破了NA測量技術(shù)瓶頸，首次以國際上現(xiàn)有“激光變頻”法之外的方法建立了硅球直徑精密測量系統(tǒng)，技術(shù)潛力高出“激光變頻”法近1個數(shù)量級，達0.03nm，為國際首創(chuàng)。

       成果發(fā)表引起巨大國際反響，國際NA工作組主席Becker博士專程到訪實驗室，對該項目的技術(shù)創(chuàng)新給予高度評價：“目前體積測量已成為阿伏伽德羅常數(shù)測量最主要的誤差源，這套基于新穎技術(shù)路線的硅球直徑測量干涉儀對于支撐以硅球方案定義千克的下一步工作框架是非常重要的?；讵毦咛厣募夹g(shù)原理，該項工作實現(xiàn)了硅球直徑不確定度的高可靠性評估，是一項杰出的科學成就。”

   2009年該項成果報告會在PTB引起強烈反響，隨后與PTB簽署了2年的NA合作研究協(xié)議。課題組于2010年加入國際NA工作組，參與國際阿伏伽德羅常數(shù)項目中單晶硅球直徑測量研究。

 應用前景廣闊

　　記者：請您介紹一下該項目科研成果的推廣應用情況。

　　羅志勇：利用該項技術(shù)首次在我國實現(xiàn)了對單晶硅球密度的絕對測量，建成我國絕對密度測量系統(tǒng)包括硅球直徑測量、密度量值傳遞和氧化硅層厚度測量3套大型裝置。2010年，主體裝置被批準為“固體密度基準”，將我國密度基準在（500~10000）kg/m3范圍內(nèi)的準確度，從5×10-6提高至2×10-7，結(jié)束了我國密度量值溯源長期依賴純水密度的歷史，測量能力達到國際領先水平。2010年質(zhì)檢總局又批準建立“密度副基準”并頒發(fā)了我國新“密度量傳系統(tǒng)表”。本項研究成果又直接促使我國密度量傳體系的徹底變革，標志著我國密度量傳能力已躍居世界先進水平的前列。

　　記者：最后，請您談談該項目在推動科技進步和提高行業(yè)競爭力方面的作用和意義。

　　羅志勇：首先，該項研究成果已在我國NA測量研究、國際合作研究、“壓浮”測量研究及“可調(diào)諧激光移相干涉系統(tǒng)研制”等多項科學研究中得到實質(zhì)性應用。特別是在NA測量研究中，“機械掃描”相移干涉技術(shù)已成為其支撐技術(shù)，并取得了國際領先的研究成果，并有進一步提高的潛力。

　　其次，精密加工、精密制造和裝配等行業(yè)是我國發(fā)展較的薄弱工業(yè)領域，該項成果的亞納米級測長準確度，高出長度基準2個數(shù)量級，特別適用于這些領域的小尺寸樣件或工件的微小變形、材料或工件熱脹系數(shù)的精確測量。對于提高我國特種工業(yè)領域國際競爭力，推動整體科技能力提升具有重要意義。